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Evan Mattson:近场光学测试优化LED光学设计方案

放大字体  缩小字体 发布日期:2014-07-04 来源:中国半导体照明网浏览次数:53

Radiant Zemax有限责任公司光学软件工程师Evan Mattson先生发表主题演讲

       中国半导体照明网记者 上海报道 7月3日,在Green Lighting 2014中国(上海)国际半导体照明应用技术论坛开幕式上,来自Radiant Zemax有限责任公司光学软件工程师的Evan Mattson介绍了近场光学测试的测试原理及近场测试在灯具设计中的优势。

据悉,目前在LED器件或灯具设计过程中,一般采用两种模型对光源进行模拟,即“光源远场模型”和“光源近场模型”。

而传统方法多以LED光源的远场测试数据为设计依据,将光源看作一个各向同性的点光源,仅仅是针对LED光源相对粗糙的测量,并不能精确地描述光源的空间光分布情况,容易导致LED产品的色度和亮度不均匀、光源整体效率低等问题,LED光线集的获取已成为LED光学设计的瓶颈问题。

因此,获取并合理利用精确、详实的LED光源信息,尤其是光源空间光分布信息是LED光学设计的关键点。

开幕式现场

相比远场测试,光源近场模型则是将光源看作一个复杂的面光源来研究其实际发光情况。因此,通过对LED光源进行近场测试,可以获得包含光线数量、光线的角度范围、总光通量和光线起点等详细光源信息的光线集文件。近场测试获得的LED光源光线集的应用可以有效提高LED光学设计的质量和效率。

据Evan Mattson介绍,RSM(Radiant Source Model)是光源近场效率刻划显示的工业标准模型,它有着丰富的信息,可提供亮度值及色坐标参数,还可以保存所有测量的影响,并且能够使用Radiant Zemax的ProSource®的功能使其更精准,产生更能完整的射线组合用来提供光学设计用的原型,减少光学设计中不必要的时间。

Radiant Zemax目前推出了SIG-300\400等系列产品,可采集并汇集光源周围多角度面向的亮度及颜色测量,这些光信号会汇整至RSM进一步分析出光源的效率,这些数据可用来提供光学设计上使用。

【参考文献】《光源近场测量在LED光学设计中的应用与研究》.范红忠 曹民 李抒智 杨卫桥 钱晶.《光学学报》2012年第12期

注:Radiant Zemax是一家为光学、照明和显示器行业提供测试设备及设计软件的全球供应商,总部位于美国华盛顿州雷德蒙德市,是由ZEMAX Development Corporation和Radiant Imaging于2011年合并而成。为客户提供各种优化改善产品质量,节约成本的高性价比测量测试设备,包括光学和照明设计软件、色度计、光度计、测角仪等产品。

 
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