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【SSLCHINA 2016】桂林电子科技大学机电工程学院院长杨道国教授:测量和预测系统级的LED灯寿命仍然是一个挑战

放大字体  缩小字体 发布日期:2016-11-17 来源:中国半导体照明网浏览次数:486
   11月15日-17日,一年一度的行业盛会--第十三届中国国际半导体照明论坛(SSLCHINA 2016)在北京国际会议中心召开。17日,SSLCHINA的经典分会--“可靠性与热管理技术”专题分会由武汉大学动力与机械学院院长、教授刘胜与飞利浦首席可靠性工程师陶国桥共同担任分会主席并担任嘉宾主持人。
桂林电子科技大学机电工程学院院长、教授杨道国分享了“LED灯具寿命预测的快速评价方法”主题报告
  会上,来自桂林电子科技大学机电工程学院院长、教授杨道国分享了“LED灯具寿命预测的快速评价方法”主题报告。
 
  报告中指出,LED与传统的光源相比有许多优势,如照明效率高、节能、寿命长,因此越来越引起人们的关注。然而,在目前的产品中,70%以上的输入点能量转换成了热能。
 
  由于接合温度高,LED产品存在许多问题,比如量子效率低,光谱移位,色移,甚至寿命缩短。LED产品的热可靠性也令人担忧。在过去的十年间,尽管对LED的封装和模块进行了很多研究,但是测量和预测系统级的LED灯的寿命仍然是一个挑战。
 
  为获得高功率LED灯的寿命,杨道国教授在报告中,提出了基于子系统隔离法的LED灯的分级加载压力加速测试,包括减低压力加速衰变测试和增加压力加速衰变测试。整个灯被分为三个子系统,即LED光源、驱动和机械设备。只对LED光源进行分级加载压力加速测试,将其放入热处理室中,与时效炉中的其它子系统相连。
 
  因此,对于LED光源,可以实现最高可以施加的压力水平。同时,在分级加载压力加速测试之前,对LED灯模块进行基于子系统隔离法的加速衰退测试,以实现理想的热应力极限,在此范围内LED灯模块的衰退机制是一致的。
杨道国
  而且,杨道国教授基于分级加载压力加速测试分析了LED光源的可靠性,并且采用了失效树和Monte Carlo算法推测整个LED灯的可靠性。
 
  结果表明,LED光引擎的TSL能够通过HADT程序轻松地观察;也提出的分级加载压力加速测试能够快速有效地使LED灯模块的性能产生退化;SUSADT光性能的提高要好于SDSADT,这是由于SDSADT能够有效地降低LED灯的光参数的增长;而且,伴随着增长的荷载应力,LED模块的色移比光衰更灵敏。
 
  最后,还提出了一套方法在快速评定LED灯方面具有很大的潜力。
 
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