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德国达姆施塔特工业大学研究助理Ferdinand KEIL:加速测试条件下高品质低成本的LED电源寿命对比性研究

放大字体  缩小字体 发布日期:2019-11-27 来源:中国半导体照明网浏览次数:342
 11月25-27日,由深圳市龙华区科技创新局特别支持,国家半导体照明工程研发及产业联盟(CSA)、第三代半导体产业技术创新战略联盟(CASA)主办,深圳第三代半导体研究院与北京麦肯桥新材料生产力促进中心有限公司共同承办的第十六届中国国际半导体照明论坛(SSLCHINA 2019)暨2019国际第三代半导体论坛(IFWS 2019)在深圳会展中心召开。 

2019年11月26日上午,“可靠性与热管理技术” 分会如期召开。本届分会由山西中科潞安紫外光电科技有限公司协办。新加坡南洋理工大学副教授DU Hejun,华中科技大学能源与动力工程学院院长、中欧清洁与可再生能源学院中方院长罗小兵,北京工业大学教授郭伟玲,德国达姆施塔特工业大学研究助理Ferdinand KEIL,中国科学院半导体研究所马占红,香港科技大学赵惠珊,半导体照明联合创新国家重点实验室(常州基地)研发工程师陈威等来自中外的强势力量联袂带来精彩报告。
Ferdinand KEIL

 德国达姆施塔特工业大学研究助理Ferdinand KEIL带来了题为“加速测试条件下高品质低成本的LED电源寿命对比性研究”的主题报告,介绍了一项关于高端LED驱动和低成本LED驱动的对比研究。

研究采用了多种加速测试的方法确定器件的寿命,其中包括温度、湿度、偏差测试(THB)等。一些测试中重要的参数都会被记录下来。同时失效分析和失效模式都会跟实验记录做对比。比较常见的失效原因是电腐蚀,其一般常出现在低成本器件中,因为通常这些设备都缺乏有效的电路板组装清理工艺。同时研究也发现了金属薄膜电容对于高温高湿都非常敏感,这些器件通常都是由于采用了塑料封装。

实验结果表明尽管以上两种LED驱动在设计、产品质量和失效模式都不相同,但是在THB测试环节,其两种LED的驱动失效的寿命时间并没有很大的区别。

  

(内容根据现场资料整理,如有出入敬请谅解)

 

 
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