2014年11月6日，第十一届中国国际半导体照明展览会暨论坛(SSLCHINA 2014)之“材料与装备技术”分会在广州广交会威斯汀酒店举行。来自德国Instrument Systems公司的Matthias Hoeh博士发表了题为“平行测试带来更高的LED生产量”的演讲。
在报告中，Hoeh博士表示典型的LED测试系统由源仪表单元(SMU)、分光辐射谱仪、光学探针(积分球)及其他附件和软件组成。在进行测试的过程中，可以从操作时间、电气测量时间、光学测量时间及软件处理时间这几方面来提升测试效率。
在采用序列测试的情况下，对某一被测设备(DUT)完成测试后才开始进行下一个DUT的测试。而在平行测试当中，可以实现对n个DUT同一时间平行进行电气测量，之后再按序列进行光学测量。
在实践当中，根据“DOE 2012年8月制造路线图”所发布的成本分析，每件DUT的封装测试成本为0.01美元。而根据Instrument Systems公司的总体拥有成本(TCO)计算，每测试两次(芯片级和封装级)的成本仅为0.0046美元。
Hoeh博士还表示4/8通道的平行测试能够将测试成本降低39%/43%。这样，即使LED生产商面临降低成本的压力，仍可以采用高质量的测试设备。
