各有关单位：
联盟团体标准T/CASA 009-20XX《半绝缘碳化硅材料中痕量杂质浓度及分布的二次离子质谱检测方法》、T/CASA 010-20XX《氮化镓材料中痕量杂质浓度及分布的二次离子质谱检测方法》已完成委员会草案的编制，根据标委会管理及标准制修订细则相关规定，现面向联盟标委会发起委员会草案投票，诚邀您对以上两项标准投票或提出宝贵意见、建议，并于2019年11月1号之前将《投票单》回复casas@casa-china.cn，亦可扫描二维码进行投票。相关资料请见附件！
顺祝您工作顺利！
诚谢您的支持！
附件：
 |
《半绝缘SiC材料中痕量杂质浓度及分布的二次离子质谱检测方法》编制说明 |
|
《GaN材料中痕量杂质浓度及分布的二次离子质谱检测方法》编制说明 |
|
CASA009-20XX 半绝缘碳化硅材料中痕量杂质浓度及分布的二次离子质谱检测方法（委员会草案） |
|
CASA009-20XX 半绝缘SiC材料中痕量杂质浓度及分布的二次离子质谱检测方法（委员会草案） |
|
投票单 |
